X-Rite объявила о пополнении её популярной линейки устройств для измерения тестовых шкал i1iSis автоматическими устройствами i1iSis 2 и i1iSis 2 XL.
.jpg)
В обоих используется спектральная технология i1, приспособленная к условиям измерений M0, M1 и M2 и позволяющая выполнять измерения на блестящих поверхностях, которые сейчас широко распространены в допечатных процессах, широкоформатной и цифровой печати.
i1iSis 2 доступен в двух вариантах: i1iSis 2 XL считывает до 2500 полей на листе формата А3 за 10 мин, а i1iSis 2 – до 1500 полей на листе формата A4 за 8 мин. Оба устройства поставляются со встроенной видеосистемой, автоматически выравнивающей изображение полей. Идентификация полей происходит при помощи штрих-кода. Спектрофотометры i1iSis 2 i1iSis 2 XL совместимы с графическим стандартом X-Rite (XRGA), соответствуют новым стандартам ISO для условий измерений серии M и позволяют: получить все спектральные данные измеряемого поля; использовать ПО i1Profiler для настройки на различные виды красок и запечатываемых материалов и условиях наблюдения и сократить время создания профилей. Обновить i1iSis до i1iSis 2 можно здесь: www.xrite.com/i1isis-2-loyalty-promo.
Источник: X-Rite
/13261163/i_380.jpg)
/13261234/i_380.jpg)
/13261297/i_380.jpg)
/13261204/i_380.jpg)